微纳米粒子PVDF薄膜速度测量仪
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收费标准
机时200元/小时起 -
设备型号
XHINS-PVM-C -
当前状态
其它 -
管理员
金雨佳 010-61715050 -
放置地点
科研四号楼104
- 仪器信息
- 检测项目
- 收费标准
- 附件下载
- 公告
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名称
微纳米粒子PVDF薄膜速度测量仪
资产编号
S2308986
型号
XHINS-PVM-C
规格
XHINS-PVM-C
产地
中国
厂家
星焓科技(北京)有限公司
所属品牌
星焓科技(北京)有限公司
出产日期
2023-11-30
购买日期
2023-11-16
所属单位
分析测试中心集约服务平台
使用性质
科研
所属分类
物理性能
资产负责人
金雨佳
联系电话
010-61715050
联系邮箱
fxcs@buaa.edu.cn
放置地点
科研四号楼104
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
带电量分辨率： 10E-15-10E-13 C；
PVDF薄膜厚度6-28μm；
速度范围1-20km/s;
质量分辨10E-13-10E-10g；
每秒钟可分辨10000个粒子撞击。
PVDF薄膜厚度6-28μm；
速度范围1-20km/s;
质量分辨10E-13-10E-10g；
每秒钟可分辨10000个粒子撞击。
主要功能及特色
在高真空地面实验室中获得微纳米粒子的带电量、来流个数、飞行速度和方向等信息。
检测项目
收费标准
附件下载
公告
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