双束显微镜（FIB）
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收费标准
机时按检测项目计费送样详见检测项目 -
设备型号
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当前状态
其它 -
管理员
张旭东,杨郁喆,熊小路 010-61715056 -
放置地点
科研四号楼B311
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 收费标准
- 附件下载
- 公告
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名称
双束显微镜（FIB）
资产编号
24
型号
规格
产地
厂家
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
分析测试中心集约服务平台
使用性质
科研
所属分类
电镜中心/分子尺度原位反应,聚焦离子束,显微成像
资产负责人
张旭东
联系电话
010-61715056
联系邮箱
fxcs@buaa.edu.cn
放置地点
科研四号楼B311
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
离子束分辨率：≤3 nm@30kV；
二次电子分辨率：0.9 nm@15kV；
加速电压：0.02-30 kV
放大倍数：12×—2, 000, 000×
离子束最大可用加工束流强度100 nA
二次电子分辨率：0.9 nm@15kV；
加速电压：0.02-30 kV
放大倍数：12×—2, 000, 000×
离子束最大可用加工束流强度100 nA
主要功能及特色
电子光学系统 拥有高信噪比优势、高分辨率和高衬度，在低加速电压下也能保持高水准；
2. Ion-sculptor镜筒 低电压下获得更高分辨率的图片同时降低样品的非晶化损伤；
3. 大束流FIB 束流最大可达到100 nA， 可以大幅度节省样品加工时间以及提高加工精度；
4. 3D分辨率高 可以在FIB-SEM断层扫描成像中获取更精准、可靠的结果；
5. 批量制备样品 在预设位置执行TEM样品的批处理流程，可以在无人值守的情况下连续批量制备样品；
6. 实时监控模式 可以利用分屏功能实时监控减薄样品的厚度。
• 金属材料
• 陶瓷材料
• 高分子聚合物
• 电子半导体
• 新能源领域
2. Ion-sculptor镜筒 低电压下获得更高分辨率的图片同时降低样品的非晶化损伤；
3. 大束流FIB 束流最大可达到100 nA， 可以大幅度节省样品加工时间以及提高加工精度；
4. 3D分辨率高 可以在FIB-SEM断层扫描成像中获取更精准、可靠的结果；
5. 批量制备样品 在预设位置执行TEM样品的批处理流程，可以在无人值守的情况下连续批量制备样品；
6. 实时监控模式 可以利用分屏功能实时监控减薄样品的厚度。
• 金属材料
• 陶瓷材料
• 高分子聚合物
• 电子半导体
• 新能源领域
预约资源
检测项目
收费标准
校内送检
透射电镜制样：复杂样品3000/样起
普通样品按照 1500/样起
3D重构： 1800/样起
校内协同
透射电镜制样：复杂样品800/h
普通样品按照 500/h
3D重构：600/h
校外送检
透射电镜制样：复杂样品5000/样起
普通样品按照 3000/样起
3D重构：3500/样起
透射电镜制样：复杂样品3000/样起
普通样品按照 1500/样起
3D重构： 1800/样起
校内协同
透射电镜制样：复杂样品800/h
普通样品按照 500/h
3D重构：600/h
校外送检
透射电镜制样：复杂样品5000/样起
普通样品按照 3000/样起
3D重构：3500/样起
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公告
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