高分辨场发射扫描电镜

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收费标准

机时
按检测项目计费
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详见检测项目

设备型号

当前状态

管理员

张旭东,杨郁喆,叶志强,何倩倩 010-61715056

放置地点

科研三号楼B311-7
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名称

高分辨场发射扫描电镜

资产编号

20

型号

规格

产地

厂家

所属品牌

出产日期

购买日期

所属单位

电子显微成像

使用性质

科研

所属分类

扫描电镜,电镜中心/分子尺度原位反应,显微成像

资产负责人

张旭东

联系电话

010-61715056

联系邮箱

fxcs@buaa.edu.cn

放置地点

科研三号楼B311-7
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
  • 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
二次电子分辨率:0.5 nm@15kV;
分析模式分辨率:3.0 nm@5kV/5nA/WD=10mm;
背散射电子分辨率:1.5 nm@15kV;
加速电压:0.01-30 kV
放大倍数:光镜模式:1×—30×
电镜模式:10×—2, 000, 000×
主要功能及特色
1. 卓越的低电压分辨率 可以直接观察不导电样品;
2. 连续可变束流 分析束流可在1 pA-500 nA之间连续调整,保证元素分析时足够的束流强度,同时保证在低电压下可以保证能谱分析的分辨率;
3. SHL物镜 电磁/静电混合透镜技术,可以得到短距离内的磁性样品的高分辨像;
4. 多种SE2/BSE探测器 可以在各种电压条件下获得高分辨率、高信噪比的二次电子、背散射电子图像;
5. EDX Playback功能 采集面扫图时可以提取每一帧的面分布,有利于对电子束敏感材料和原位实验进行能谱分析;
6. 高速EBSD探头 在线解析标定速率≥5000点/s,降低扫描时间,提高扫描效率。
• 材料表面形貌分析
• 微区化学分析
• 金属材料断裂失效分析
• 晶体取向分析
• 生物样品
• 半导体器件
样本检测注意事项
该设配备有直径10 mm、25 mm两个小圆台,可进行表面观测。样品高度不超过20 mm
预约资源
检测项目
收费标准
校内送检
高分辨形貌观测:200/样起
能谱扫描: 150/次
EBSD:200/样
校内协同
高分辨形貌观测:450/h
能谱扫描:150/样
EBSD:200/样
自主上机
高分辨形貌观测:380/h
能谱扫描:100/h
EBSD:150/样
校外送检
高分辨形貌观测:400/样起
能谱扫描:200/次
EBSD:300/次
附件下载
公告
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