高通量X射线衍射仪
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2/人使用者
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3/次总次数
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4/小时总时长
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4/人收藏者
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收费标准
机时150元/小时起送样详见检测项目 -
设备型号
D8 Advance -
当前状态
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管理员
金雨佳,杨明 010-61715050 -
放置地点
科研四号楼105
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 收费标准
- 附件下载
- 公告
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名称
高通量X射线衍射仪
资产编号
68
型号
D8 Advance
规格
D8 Advance
产地
美国
厂家
Bruker
所属品牌
Bruker
出产日期
购买日期
所属单位
物理性能
使用性质
科研
所属分类
物理性能,原子结构分析,衍射分析
资产负责人
金雨佳
联系电话
010-61715050
联系邮箱
fxcs@buaa.edu.cn
放置地点
科研四号楼105
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
马达驱动发散狭缝（BB几何）
高强度Ka1,2平行光束
高分辨率Ka1平行光束
马达驱动发散狭缝
马达驱动防散射屏
可变探测器窗口
2Ɵ角度范围：小于1度至>大于150度
能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV
检测模式：0D、1D、2D
AUTOCHANGER：90个样品
带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪
温度：从~85K到~2500K
压力：10-⁴mbar至100 bar
高强度Ka1,2平行光束
高分辨率Ka1平行光束
马达驱动发散狭缝
马达驱动防散射屏
可变探测器窗口
2Ɵ角度范围：小于1度至>大于150度
能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV
检测模式：0D、1D、2D
AUTOCHANGER：90个样品
带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪
温度：从~85K到~2500K
压力：10-⁴mbar至100 bar
主要功能及特色
物相定性分析
结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析
物相定量分析
点阵参数精确测量
无标样定量分析
微观应变分析
晶粒尺寸分析
原位分析
残余应力
低角度介孔材料测量
织构及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率测量
小角散射
结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析
物相定量分析
点阵参数精确测量
无标样定量分析
微观应变分析
晶粒尺寸分析
原位分析
残余应力
低角度介孔材料测量
织构及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率测量
小角散射
预约资源
检测项目
收费标准
1. 自主上机收费
①标准测试：150元/小时；②原位测试：200元/小时。
2. 协同测试收费
①标准测试：200元/小时；②原位测试：250元/小时。
3. 校内送检收费
①标准测试：200元/小时；②原位测试：250元/小时。
4. 校外送检收费
①标准测试：400元/小时；②原位测试：500元/小时。
①标准测试：150元/小时；②原位测试：200元/小时。
2. 协同测试收费
①标准测试：200元/小时；②原位测试：250元/小时。
3. 校内送检收费
①标准测试：200元/小时；②原位测试：250元/小时。
4. 校外送检收费
①标准测试：400元/小时；②原位测试：500元/小时。
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公告
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