纳米飞行时间二次离子质谱仪

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    使用者
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    机时次数
  • 3523/小时
    总时长
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    送样次数
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收费标准

机时
500元/小时起
送样
详见检测项目

设备型号

*

当前状态

管理员

熊小路,杨楠,薛静 010-61715125 61715055

放置地点

沙河校区科研四号楼108
  • 仪器信息
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名称

纳米飞行时间二次离子质谱仪

资产编号

S2501527

型号

*

规格

场发射Bi源,离子束能量范围:15 - 30 keV

产地

厂家

*

所属品牌

*

出产日期

购买日期

2025-03-21

所属单位

化学成分分析

使用性质

科研

所属分类

表面分析,化学分析,元素/成分分析,质谱分析,质谱分析,元素/成分分析,显微成像

资产负责人

熊小路

联系电话

010-61715125,61715055

联系邮箱

fxcs@buaa.edu.cn

放置地点

沙河校区科研四号楼108
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
主要规格&技术指标
1.低质量时质量分辨率:m/z = 29 (SiH+) 的m/△M ≥ 12,000;
2.高质量时质量分辨率:m/z >200的m/△m ≥ 17,000;
3.绝缘材料质量分辨率:PET标准样品m/z = 104的m/△m ≥ 12,000;
4.质量精度:当m<100u时,<1 mamu;当m>100u时,<10 ppm;
5.空间分辨率:≤ 50nm;
6.灵敏度:m/z = 27时 ≥ 5.5 × 10E8 Al+ cts / nanocoulomb;
7.场发射Bi源,离子束能量范围:15 - 30 keV;具备FIB能力,可表征材料2D和3D分布;
8.具备Ar/O气源、GCIB团簇源和Cs离子源,可进行深度剖析;
9.串联质谱 MS/MS可同时进行传统TOF-SIMS成像和采谱分析(MS1)以及对特定离子进行离子成像和采谱分析(MS2),从而对所分析区域提供最大的分析信息量;
10.样品台可变温,温度范围-120℃ 到 +600℃;
主要功能及特色
纳米飞行时间二次离子质谱仪,用以表征材料表面的元素成分(H~U)、同位素、分子结构、分子键接等信息。TOF-SIMS可以分析所有的导体,半导体,绝缘材料; TOF-SIMS的分析深度2um左右,横向空间分辨率可达50nm; 能鉴别高质量数的有机大分子;探测灵敏度很高,可以达到ppb量级;可进行2D和3D成像来表征成分的分布;对于材料表面成分及分布,表面多层结构/镀膜成分,表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等),表面痕量掺杂,表面改性,表面缺陷(划痕、凸起等)等有很好的表征能力。
检测项目
收费标准
1.自主上机收费
①表面谱: 500元/小时;②二维面扫: 800元/小时;③深度剖析三维成像: 1000元/小时;变温测试加收 200元/小时。
2.协同测试收费
①表面谱: 600元/小时;②二维面扫: 1000元/小时;③三维剖析: 1200元/小时;变温测试加收 200元/小时。
3.校内送检收费
①表面谱: 400元/样起;②二维面扫: 1000元/样起;③三维剖析: 1200元/样起;注: 单个样品超过1小时的, 超出部分按表面谱: 400元/小时; 二维面扫: 1000元/小时; 三维剖析: 1200元/小时计, 复杂样品价格具体商议。变温测试加收 200元/小时,谱图数据处理 300元/小时。
4.校外送检收费
①表面谱: 800元/样起;②二维面扫: 2000元/样起;③深度剖析三维成像: 2400元/样起;注: 单个样品超过1小时的, 超出部分按表面谱: 800元
/小时; 二维面扫: 2000元/小时;深度剖析三维成像: 2400元/小时计, 复杂样品价格具体商议。变温测试加收 200元/小时,谱图数据处理 300元/小时。
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