场发射扫描电镜1
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122/人使用者
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730/次机时次数
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1946/小时总时长
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106/次送样次数
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226/人收藏者
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收费标准
机时0送样详见检测项目 -
设备型号
XXX -
当前状态
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管理员
张旭东,杨郁喆,熊小路,何倩倩,张哲 010-61715056 -
放置地点
沙河校区科研三号楼B311-6
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 收费标准
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射扫描电镜1
资产编号
S2502663
型号
XXX
规格
台
产地
德国
厂家
XXX
所属品牌
XX
出产日期
购买日期
2025-02-19
所属单位
电子显微成像
使用性质
科研
所属分类
电镜中心/分子尺度原位反应,扫描电镜
资产负责人
张旭东 张旭东
联系电话
010-61715056
联系邮箱
fxcs@buaa.edu.cn
放置地点
沙河校区科研三号楼B311-6
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
点分辨率：≤ 0.23 nm @200 kV； 线分辨率：≤ 0.10 nm @200 kV；
HAADF分辨率：≤ 0.16 nm @200 kV； EDX能量分辨率：≤ 129 eV 加速电压：20-200 kV
放大倍数：TEM模式：20×—2, 000, 000× STEM模式：200×—150, 000, 000 ×
双倾样品杆最大倾角：±35°α / ±30°β
单张图像储存分辨率：32k X 24k
可实现物镜下方无漏磁成像模式，可对磁性材料近距离高分辨观察
HAADF分辨率：≤ 0.16 nm @200 kV； EDX能量分辨率：≤ 129 eV 加速电压：20-200 kV
放大倍数：TEM模式：20×—2, 000, 000× STEM模式：200×—150, 000, 000 ×
双倾样品杆最大倾角：±35°α / ±30°β
单张图像储存分辨率：32k X 24k
可实现物镜下方无漏磁成像模式，可对磁性材料近距离高分辨观察
主要功能及特色
JEM-F200的设计理念是节能环保、减排低碳，提高了空间分辨率和分析性能。主要用于材料及组织高分辨形貌观察和微区晶体结构分析，系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。可以在极短时间内得到高分辨图像和成分分析，结合高灵敏度的能谱仪可以实现快速的成分分析。采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。配备SpecPorter，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。标配ECO模式，能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。
成分分析：结合能谱仪（EDS）进行元素定性和半定量检测，分析材料成分分布。
晶体结构表征：通过电子背散射衍射（EBSD）分析晶粒取向、相组成及缺陷。
动态观察：支持原位加热、拉伸等实验，实时研究材料性能变化。
特殊模式：低真空模式适用于不导电或生物样品，环境SEM可观察含水样本。
广泛应用于材料科学、生物医学、半导体、地质及纳米技术等领域。
成分分析：结合能谱仪（EDS）进行元素定性和半定量检测，分析材料成分分布。
晶体结构表征：通过电子背散射衍射（EBSD）分析晶粒取向、相组成及缺陷。
动态观察：支持原位加热、拉伸等实验，实时研究材料性能变化。
特殊模式：低真空模式适用于不导电或生物样品，环境SEM可观察含水样本。
广泛应用于材料科学、生物医学、半导体、地质及纳米技术等领域。
预约资源
检测项目
收费标准
自主上机：
普通样品观测：280/次
普通样品观测+mapping：360/次
校内协同：
普通样品观测：400元/小时
mapping：150元/样
校内送检：
普通样品观测：200元/样起
Mapping： 100元/样起
校外送检：
普通样品观测：400元/样
Mapping： 150元/样
普通样品观测：280/次
普通样品观测+mapping：360/次
校内协同：
普通样品观测：400元/小时
mapping：150元/样
校内送检：
普通样品观测：200元/样起
Mapping： 100元/样起
校外送检：
普通样品观测：400元/样
Mapping： 150元/样
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