场发射扫描透射电镜
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65/人使用者
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268/次机时次数
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2319/小时总时长
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31/次送样次数
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49/人收藏者
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收费标准
机时按检测项目计费送样详见检测项目 -
设备型号
JEM-F200 -
当前状态
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管理员
杨郁喆,张旭东,何倩倩,张哲 010-61715056 -
放置地点
沙河校区科研三号楼B311-13
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 收费标准
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射扫描透射电镜
资产编号
S2503058
型号
JEM-F200
规格
台
产地
日本
厂家
日本电子株式会社
所属品牌
日本电子
出产日期
购买日期
2025-06-26
所属单位
电子显微成像
使用性质
科研
所属分类
电镜中心/分子尺度原位反应,透射电镜,显微成像
资产负责人
张旭东 何倩倩
联系电话
010-61715056
联系邮箱
fxcs@buaa.edu.cn
放置地点
沙河校区科研三号楼B311-13
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
透射电子分辨率0.17nm
主要功能及特色
透射电子成像
预约资源
检测项目
收费标准
自主上机：
高分辨形貌观测：400元/小时
高分辨形貌观测+EDS：500元/小时
校内协同：
高分辨形貌观测：480元/小时
高分辨形貌观测+EDS：600元/小时
校内送检：
高分辨形貌观测：500元/小时
高分辨形貌观测+EDS: 650元/小时
校外送检：
高分辨形貌： 700元/小时
高分辨形貌观测+EDS：850元/小时
高分辨形貌观测：400元/小时
高分辨形貌观测+EDS：500元/小时
校内协同：
高分辨形貌观测：480元/小时
高分辨形貌观测+EDS：600元/小时
校内送检：
高分辨形貌观测：500元/小时
高分辨形貌观测+EDS: 650元/小时
校外送检：
高分辨形貌： 700元/小时
高分辨形貌观测+EDS：850元/小时
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公告
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